Минобрнауки России
Федеральный Исследовательский Центр
Почвенный институт имени В.В. Докучаева
Приглашаем принять участие в работе семинара 25 февраля
Тема семинара: Электронная микроскопия как дополнение к минералогическому и микроморфологическому анализу почв.
Докладчик – Чурилин Никита Александрович, н.с. лаборатории минералогии и микроморфологии почв.
Семинар посвящён использованию сканирующей электронной микроскопии (SEM) как интегративного метода в системе почвенных исследований.
В рамках семинара будет определено место SEM в иерархии почвенного анализа — от полевых методов и микроморфологии до минералогических исследований. Особое внимание уделим роли SEM как методологического моста, связывающего морфологическое описание с химико‑минералогической интерпретацией микропризнаков.
В ходе семинара будут рассмотрены:
- принципы работы детекторов SE, BSE и энергодисперсионной спектроскопии (EDS);
- возможности и ограничения метода SEM, включая специфику пробоподготовки;
- примеры применения SEM для решения почвенно‑генетических задач:
- диагностика солевых и органо‑минеральных новообразований,
- изучение трансформации минералов,
- анализ Fe–Mn новообразований,
- исследование микростроения корковых солонцов и др.
Начало в 15:00
Место проведения: ФИЦ "Почвенный институт им. В.В. Докучаева", актовый зал
Трансляция семинара будет доступна по ссылке, а так же ниже на странице сайта